常見(jiàn)的機(jī)器視覺(jué)光源有多種類型，每種類型都有其獨(dú)特的特點(diǎn)和適用場(chǎng)景。以下是一些常見(jiàn)的機(jī)器視覺(jué)光源介紹：

　1、環(huán)形光源

　　環(huán)形光源帶來(lái)不同照射角度、不同顏色組合，更能突出物體的三維信息;高密度LED陣列，高亮度;多種緊湊設(shè)計(jì)，節(jié)省安裝空間;解決對(duì)角照射陰影問(wèn)題;可選配漫射板導(dǎo)光，光線均勻擴(kuò)散。應(yīng)用場(chǎng)景:PCB基板檢測(cè)，IC元件檢測(cè)，顯微鏡照明，液晶校正，塑膠容器檢測(cè)，集成電路印字檢查

　　2、背光源

　　用高密度LED陣列面提供背光照明，能突出物體的外形輪廓特征，特別適合作為顯微鏡的載物臺(tái)。紅白兩用背光源、紅藍(lán)多用背光源，能調(diào)配出不同顏色，滿足不同被測(cè)物多色要求。應(yīng)用場(chǎng)景:機(jī)械零件尺寸的測(cè)量，電子元件、IC的外型檢測(cè)，膠片污點(diǎn)檢測(cè)，透明物體劃痕檢測(cè)等。

　　3、條形光源

　　條形光源是較大方形結(jié)構(gòu)被測(cè)物的光源;顏色可依據(jù)需求搭配，自由組合;照射角度與安裝隨意可調(diào)。應(yīng)用場(chǎng)景:金屬表面檢查，圖像掃描，表面裂縫檢測(cè)，LCD面板檢測(cè)等。

　　4、同軸光源

　　同軸光源能夠消除物體表面不平整引起的陰影，進(jìn)而減少干擾;部分采用分光鏡設(shè)計(jì)，減少光損失，提高成像清晰度，均勻照射物體表面。應(yīng)用場(chǎng)景:系列光源適合用在反射度極高的物體，如金屬、玻璃、膠片、晶片等表面的劃傷檢測(cè)，芯片和硅晶片的破損檢測(cè)，Mark點(diǎn)定位，包裝條碼識(shí)別。

　　5、AOI光源

　　不同角度的三色光照明，照射凸顯焊錫三維信息;外加漫射板導(dǎo)光，減少反光;不同角度組合;應(yīng)用場(chǎng)景:用在電路板焊錫檢測(cè)。

　　6、球積分光源

　　具有積分效果的半球面內(nèi)壁，均勻反射從底部360度發(fā)射出的光線，使整個(gè)圖像的照度十分均勻。應(yīng)用場(chǎng)景:合于曲面，表面凹凸，弧形表面檢測(cè)，或金屬、玻璃表面反光較強(qiáng)的物體表面檢測(cè)。

　　7、線形光源

　　超高亮度，采用柱面透鏡聚光，用在各種流水線連續(xù)檢測(cè)場(chǎng)合。應(yīng)用場(chǎng)景:陣相機(jī)照明，AOI。

　　8、點(diǎn)光源

　　大功率LED，體積小，發(fā)光強(qiáng)度高;光纖鹵素?zé)舻拇嫫?，十分適合作為鏡頭的同軸光源等;高效散熱裝置，提高光源的使用壽命。應(yīng)用場(chǎng)景:適合遠(yuǎn)心鏡頭使用，用于芯片檢測(cè)，Mark點(diǎn)定位，晶片及液晶玻璃底基校正。

　　9、組合條形光源

　　四邊配置條形光，每邊照明可控;可根據(jù)被測(cè)物要求調(diào)整所需照明角度，適用性廣。應(yīng)用場(chǎng)景:CB基板檢測(cè)，IC元件檢測(cè)，焊錫檢查，Mark點(diǎn)定位，顯微鏡照明，包裝條碼照明，球形物體照明等。

　　10、對(duì)位光源

　　對(duì)位速度快;視場(chǎng)大;精度高;體積小，方便于檢測(cè)集成;亮度高，可以選配輔助環(huán)形光源。應(yīng)用領(lǐng)域:VA系列光源是全自動(dòng)電路板印刷機(jī)對(duì)位的光源。

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